特點與優勢
● 閉管射線源，無需耗材，維護簡單
● 腔體尺寸較大，具備較強的擴展能力
● 0.5μm高空間分辨率
● 多種掃描模式：螺旋、偏置、有限角等
技術指標
分辨率
像素細節分辨能力 | 1μm(平板探測器) / 50nm(物鏡耦合探測器) |
空間分辨率* | 3μm(平板探測器) / 500nm(物鏡耦合探測器) |
X射線源
類型 | 閉管 |
最高電壓 | 150KV |
平板探測器
成像面積 | 244mm×195mm |
像素矩陣 | 1920×1536 |
物鏡耦合探測器
鏡頭 | 4X、10X、20X |
樣品
可檢測樣品尺寸 | 400mm×300mm(直徑×高度) |
樣品承重 | 15kg |
設備物理參數
設備尺寸 | 1620mm×1100mm×1700mm(長×寬×高) |
設備重量 | 2400kg |
*空間分辨率可用空間分辨率測試卡進行測試驗證
▲ 技術參數為參考指標，更多規格型號，歡迎來電咨詢
附件擴展
 | 原位4D成像 結合原位力學和溫度等加載裝置，實現4D CT成像。 |
 | 物鏡耦合探測器 實現大工作距離下的高分辨率成像。 |
